三极管

推挽电路和开集

馋奶兔 提交于 2019-11-27 23:59:57
整理下之前的笔记:简谈推挽电路 要理解推挽输出,首先要理解好三极管(晶体管)的原理。下面这种三极管有三个端口,分别是基极(Base)、集电极(Collector)和发射极(Emitter)。下图是NPN型晶体管。 这种三极管是 电流控制 型元器件,注意关键词电流控制。意思就是说,只要基极B有输入(或输出)电流就可以对这个晶体管进行控制了。 下面请允许我换一下概念,把基极B视为 控制端 ,集电极C视为 输入端 ,发射极E视为 输出端 。这里输入输出是指 电流流动 的方向。 当控制端有电流输入的时候,就会有电流从输入端进入并从输出端流出。 而 PNP管正好相反 ,当有电流从控制端流出时,就会有电流从输入端流到输出端。 那么 推挽电路 : 上面的三极管是N型三极管,下面的三极管是P型三极管,请留意控制端、输入端和输出端。 当Vin电压为V+时,上面的N型三极管控制端有电流输入,Q3导通,于是电流从上往下通过,提供电流给负载。 经过上面的N型三极管提供电流给负载(Rload),这就叫「 推 」。 当Vin电压为V-时,下面的三极管有电流流出,Q4导通,有电流从上往下流过。 经过下面的P型三极管提供电流给负载(Rload),这就叫「 挽 」。 以上,这就是 推挽(push-pull)电路 。 那么什么是开漏呢?这个在我答案一开头给出的「网上资料」里讲得很详细了,我这里也简单写一下。

开机后主板测试卡直接显示“FF或00”的故障原因及排除方法:

自作多情 提交于 2019-11-27 07:10:25
开机后主板测试卡直接显示“FF或00”的故障原因及排除方法: 开机直接显示FF或00,确实是CPU没有工作,但是CPU损坏的可能性远远低于下列四种原因(检测卡是从FF一直到00结束): 1、ATX电源损坏,缺少供给CPU的某组电压,也会出现FF或00,可以换一个好的电源试一下,如果正常了说明原来的电源损坏,可以用万用表测量电源的20芯插头里面的各组电压与好的电源作比较,肯定会发现毛病; 2、主板CPU座下的焊点因为长时间的热胀冷缩,会出现脱焊(焊点开裂),也会出现FF或00,尤其是是用老式直立式转接卡的CPU,转接卡的CPU座焊点开裂情况比较多,一般肉眼不容易看出来,要用放大镜。修理方法:用热风枪对焊点均匀加热至焊点熔化; 3、 检查CPU附近的电解电容是否有爆裂,爆裂的电容上下都会鼓起,用肉眼很容易发现,可以用相同规格的电容换上,故障就会排除; 4、CPU附近的功率三极管烧毁,可以用万用表测量这些三极管,一般都表现为击穿(电阻值接近为零),找相同或可以代用的三极管更换即可,搞修理多的朋友一般会从报废主板上拆。 来源: https://blog.csdn.net/qq_41579609/article/details/99541706

初级模拟电路:3-1 BJT概述

扶醉桌前 提交于 2019-11-26 22:20:03
回到目录 1. 名称由来 BJT的全称是 双极性结型晶体管 (Bipolar Junction Transistor),国内俗称三极管。其实,在英语中, 三极管 (triode)特指以前的真空电子管形式的三极管,而不是我们现在普遍使用的半导体三极管。“tri-”的意思是“三”,“ode”的意思是“极”,当年的电子管一般都封装在一个圆柱形的真空玻璃管中,所以中文翻译在后面加了个“管”。 早在二战以前,电子技术和电子元器件的应用就已经很发达了,在1930年代,全球电子管的年产量就已经达到1亿支以上。在那个没有集成电路的年代,更复杂的电子元器件诸如四极管、五级管等的应用也很普遍。“二极管”、“三极管”等名称更是早已深入人心。 而我们现在普遍应用的固态半导体结构的三极管,是1947年发明出来的,标准学名是: 双极性结型晶体管 (Bipolar Junction Transistor),简称“BJT”。由于最初其功能与管脚跟以前的三极管差不多,所以国内业界沿用了“三级管”这个俗称。但是BJT比以前电子管结构的三极管,实在优秀太多了:体积小巧、结构简单、无需预加热、功耗损失小、故障率极低。更为逆天的是,后来人们发现,BJT可以做得很微小,然后可以将成百上千的微型BJT组成的电路集成安放在一小块硬币大小的基片上,并将其称为: 集成电路 (integrated circuit,简称:IC、芯片)