前言：DFT的作用是n提高产品质量，降低測試成本。
一、扫描(SCAN)测试
将电路中的存储单元（寄存器Register）转化成为可控制和可观察的存储单元（寄存器） ，将这些单元连接成一个或多个移位寄存器，即扫描链
二、内建自测试(BIST)
在电路内部增加测试电路结构，在测试时这个测试电路结构能够自己产生激励和比较响应
三、静态电流(IDDQ)测试
若存在电流性故障, 会使电路在静态时产生一个高于正常值的电流 。
来源：CSDN
作者：gsithxy
链接：https://blog.csdn.net/gsjthxy/article/details/104182499