痞子衡嵌入式:飞思卡尔i.MX RTyyyy系列MCU硬件那些事(2.2)- 在串行NOR Flash XIP调试原理
大家好,我是痞子衡,是正经搞技术的痞子。今天痞子衡给大家介绍的是 飞思卡尔i.MX RTyyyy系列EVK在串行NOR Flash调试的原理 。 本文是i.MXRT硬件那些事系列第二篇的续集,在第二篇首集中痞子衡给大家详细介绍了EVK板载调试器用法,有了调试器在手,从此调试不用愁。从调试代码所在目标存储器类别上来分,调试一般分为在SRAM调试和在Flash调试。在SRAM调试实现比较简单,程序直接从JTAG/SWD口灌进RAM即可;在Flash调试,则相对复杂一点,因为首先需要有Flash下载算法,下载成功后才能调试。 通常的Cortex-M内核MCU一般都会内嵌并行NOR Flash,这个并行NOR Flash是直接挂在Cortex-M内核高性能AHB总线上的,知名IDE如果支持这款MCU,也都会同时集成对应Flash的下载算法,方便用户直接在IDE里下载代码进Flash和XIP调试,但是i.MXRT内部并没有Flash,用户需要自己外接Flash,那该怎么办?还能在线XIP调试么?别着急,i.MXRT可以支持外接并行NOR和串行NOR实现XIP,从节省管脚数的角度,最常见的做法是将串行NOR Flash挂在i.MXRT FlexSPI总线上,FlexSPI支持XIP特性,所以原理上可以实现在线调试,今天痞子衡就为大家介绍i.MXRT上在外部串行Flash调试的原理: